Vendre
hamelyn-logo

Aide

cupon
Prenez-en trois et ne payez que deux avec le code TRIPLE
cupon
IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

SciencesTechnologie
imageLivraison GRATUITE
imageRetour sous 30 jours
Il ne reste qu'une unité, dépêchez-vous !
État

Paiement sécurisé

googlepayapplepayvisamastercardpaypalaexpress

Détails du livreBroché

Éditeur

Institucion Alfonso el Magnanimo (Valenc

Pages

104

Langue

ca, es

Auteur: Jose Maria Amigó Descarga

Description

Este libro, titulado 'IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X', es una introducción a la difracción de rayos X por el método de polvo, el método de Rietveld y el análisis microestructural de caolinitas por DRX. Publicado en 1996 por Alfons el Magnànim, Valencia, este volumen de 104 páginas ofrece una exploración detallada de la caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico.

recommender-banner
JulIA, votre bibliothécaire virtuelleVous recommande votre prochaine grande lecture

Produits similaires